SN74ABT8245DWR
Texas Instruments
IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Запросить цену- Артикул
- SN74ABT8245DWR
- Производитель
- Texas Instruments
- Наличие
- Под заказ
- Срок поставки
- 3–4 недели
- Цена
- По запросу
Похожие позиции
- SN74ABT827DWTexas InstrumentsЗапросить цену
- SN74ABT827NTTexas InstrumentsЗапросить цену
- SN74ABT821ADWTexas InstrumentsЗапросить цену
- SN74ABT821ANTTexas InstrumentsЗапросить цену
- SN74ABT823DBRTexas InstrumentsIC D-TYPE POS TRG SNGL 24SSOPЗапросить цену
- SN74ABT823DWRTexas InstrumentsIC D-TYPE POS TRG SNGL 24SOICЗапросить цену
- SN74ABT8245DWTexas InstrumentsЗапросить цену
- SN74ABT827DBRTexas InstrumentsIC BUFF/DVR TRI-ST 10BIT 24SSOPЗапросить цену